专利详细信息

专利名称: 样品核径迹原位蚀刻观测方法及设备
专利类别: 发明专利
申请号: 2018114651114
专利号:
申请日期: 2018.12.3
第一发明人: 申亚辉;李伟星;周月青
专利授权日期:
专利证书号:
专利摘要: